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CIX100清潔度檢測系統

  • 品牌:奧林巴斯
  • 型號: CIX100
  • 產地:日本
  • 供應商報價: 面議
  • 標簽: 清潔度檢測系統 清潔度檢測 清潔度
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上海西努光學科技有限公司

主營產品:奧林巴斯顯微鏡,奧林巴斯工業內窺鏡,iX高速攝像機,標樂金相制樣設備,威爾遜硬度

詳細介紹

清潔度檢測組件與零部件的清潔對于生產工藝十分重要。對于開發、制造、批量生產和成品質量控制的所有流程,滿足對常見微觀尺寸污染物和異物顆粒的計數、分析和分類的高標準要求是非常重要的。

    由于顆粒污染物對于零部件的使用壽命存在直接影響,國際和國家指令對于確定重要機械部件顆粒物污染的方法和存檔要求均有表述。此前,使用殘留顆粒物的質量來描述殘留物特征。

    當前使用的標準對諸如顆粒物數量、顆粒物尺寸分布以及顆粒物特征等污染屬性提出了更詳細的信息要求。

    奧林巴斯CIX100清潔度檢測系統專為滿足現代工業及國家和國際標準的清潔度要求而特別設計。

 

  


   

可靠

硬件與軟件無縫集成的耐用型高效率系統能夠提供可靠、精確的數據。

直觀

使用方便的專用工作流可最大限度減少用戶操作并確保數據可靠性——對操作員的經驗水平無要求。

高速

創新的一體式掃描解決方案讓完成掃描的速度是傳統調節檢偏鏡式檢測系統的兩倍。實時顯示顆粒物的計數和篩選過程,并且配有便于修改檢測數據的強大易用型工具。

兼容

一鍵報告功能可滿足國際標準規定的要求及原則。

奧林巴斯CIX100系統通過完整檢測流程實現性能和生產率的提升,該產品專為方便各種經驗水平的檢測員進行清潔度檢測而設計。

軟件可提供完整清潔度檢測流程的分步指導。

直觀的工作流可提高生產效率及對檢測結果的信心,同時縮短檢測周期,減少每次檢測的成本以及操作失誤。最終獲得能夠最大限度確保滿足高質量標準的檢測系統。

可靠的全套系統解決方案:

 

實現高度可再現性的自動化和精確度

奧林巴斯CIX100系統是專為滿足自動化清潔度檢測需求的整體解決方案。所有部件均已針對高效率系統數據的精確性、可再現性、可重復性以及無縫集成進行優化。該系統專為獲得卓越的光學性能、可再現觀察條件以及可重復性而設計。同時,該清潔度檢測系統還可通過自動化執行關鍵任務功能來大大減少人為錯誤。

實現高效率的直觀引導

奧林巴斯CIX100系統通過完整檢測流程實現性能和生產率的提升,該產品專為方便各種經驗水平的檢測員進行清潔度檢測而設計。軟件可提供完整清潔度檢測流程的分步指導。直觀的工作流可提高生產效率及時檢測結果的信心,同時縮短檢測周期,減少每次檢測的成本以及操作失誤,最終獲得能夠確保滿足高質量標準的檢測系統。

快速實時分析和審核精準的結果

所有相關數據均在一個界面顯示

奧林巴斯CIX100系統利用創新偏光方法可在一次掃描中實現尺寸介于2.5μm至42mm之間分光及非反光顆粒物的高性能圖像采集和精確的實時分析。創新的一體式掃描解決方案讓完成掃描的速度是傳統調節檢偏鏡式檢測系統的兩倍。實時顯示顆粒物的計數和篩選進程,支持及時決策是否重新檢測,并可在檢測失敗情況下做出最快的應對。

靈活的評估和修改

奧林巴斯CIX100系統提供的強大易用型工具可通過快速顆粒物復合實現檢測數據的修改。一鍵重新分類功能支持用戶靈活切換國際標準。系統探測到的所有污染物縮略圖可通過尺寸測量鏈接定位,方便數據的復核。檢索特殊污染物的信息非常簡單,通過復核流程,在所有視圖和尺寸細類中自動更新和顯示所有檢測結果。由此通過清新展示所有相關檢測結果來節省時間。

高效的報告創建

基于符合行業標準預設模板的智能報告工具實現一鍵輕松完成檢測結果的數字存檔。檢測結果可在Microsoft word2016中創建,并可直接導出為PDF格式,從而讓數據能夠通過電子郵件輕松傳遞。報告模板可幫助經驗不足的操作員避免失誤,并可根據您所在公司的需要輕松進行修改。數據共享與報告工具可節省時間,提高反應時間和效率。奧林巴斯CIX100系統還可進行報告和數據的存檔,實現數據記錄的保存。


清潔度檢測硬件

顯微鏡OLYMPUS CIX100電動對焦
  •  3軸操縱桿控制的同軸自動細調焦

  •  對焦行程 25毫米

  •  微調行程 100微米/周

  •  載物臺托架最大高度:40毫米

  •  對焦速度 200微米/秒

  •  可啟用軟件自動對焦

  •  可定制多點聚焦圖

照明器
  • 內置LED照明

  • 可同時實現反光和非反光顆粒物探測的照明機制

  • 光強度由工廠預設

成像設備
  • 彩色CMOS USB 3.0相機

樣品高度
  • ?樣品受限于安裝在所附濾膜托架上的過濾膜(直徑47毫米)

物鏡轉換器電動型電動物鏡轉換器
  • 6孔電動物鏡轉換器,已經安裝3個UIS2物鏡

  • PLAPON 1.25X,用于預覽

  • MPLFLN 5X,用于觀察大于10微米的顆粒物

  • MPLFLN 10X,用于觀察大于2.5微米的顆粒物

     選配:選配MPLFLN 20X,用于高度測量。

軟件控制
  • 圖像放大倍率和像素與尺寸之間的關系均可隨時掌握。

載物臺電動載物臺X,Y電動載物臺X,Y
  • 步進電機控制運動

  • 最大范圍:130 x 79毫米

  • 最大速度 240毫米/秒(4毫米滾珠螺距)

  • 可重復性 < 1微米

  • 分辨率 0.01微米

  • 使用3軸操縱桿控制

軟件控制
  • 掃描速度與所使用的倍率有關,10X時保證掃描速度少于10分鐘

  • 載物臺對齊由工廠在裝配時完成

樣品托架樣品托架
  • 樣品托架專為在安裝過程中避免發生意外碰撞轉動而特別設計

  • 過濾膜通過樣品托架進行機械式展平

  • 固定上蓋時無需使用工具

  • 樣品托架始終使用載物臺上的插槽1

顆粒物標準片(PSD)
  • 用于驗證系統測量的參考樣品

  • 在檢驗系統控制CIX相應功能的內置功能中使用的樣品

  • 顆粒物標準片(PSD)始終使用載物臺上的插槽2

載物臺插件2個載物臺插槽
  • 載物臺插槽專門用于樣品托架和顆粒物標準片(PSD)的正確定位

控制器工作站高性能預安裝式工作站
  • HP Z440, Windows 10-64位專業版(英文版)

  • 16 GB RAM, 256 GB SSD和4 TB數據存儲空間

  • 2GB視頻適配器

  • 安裝Microsoft Office 2016 (英文版)

  • 具備聯網功能,英文全鍵盤,1000 dpi光學鼠標

擴展插件
  • 電動控制器, RS232 串口和USB 3.0

語言選擇
  • 操作系統和Microsoft Office默認語言可由用戶更改

觸摸屏23寸觸摸屏
  • 專為CIX軟件優化的1920x1080分辨率

功耗額定值
  • AC適配器(2), 控制器和顯微鏡鏡架(需要4個插頭)

功耗
  • 控制器:700瓦; 顯示器:56瓦; 顯微鏡:5.8 瓦; 控制盒 7.4瓦

  • 合計:769.2瓦

圖紙尺寸 (長 x 寬 x 高)約1300毫米 x 800毫米 x 510毫米
重量44公斤

系統環境要求

常規使用溫度10 - 35 °C
濕度30 - 80 %
用于安全環境室內使用
溫度5 - 35 °C
濕度
  • 最大80%(可達31 °C)(無冷凝)

  • 溫度高于31 °C時可工作的濕度值呈線性下降。

  • 34 °C (70 %)至37 °C (60 %)至40 °C (50 %) 

海拔高度最高2000米
水平度最大± 2°
電源及電壓穩定性±10 %
污染等級 2
總電壓II

軟件

軟件CIX-ASW-V1.1
技術清潔度檢測的專用工作流軟件
語言GUI :英語、法語、德語、西班牙語、日語、中文簡體、以及韓語
在線幫助:英語、法語、德語、西班牙語、日語、中文簡體、以及韓語
許可證管理軟件許可證通過許可證卡激活(安裝時已經激活)
用戶管理系統可連接到網絡進行域管理
實時圖像以彩色模式顯示
窗口適應方法
實時探測 
- 為提高速度,顆粒物在被捕捉到時即進行檢測。 
- 如果測量結果不佳,用戶可停止該進程。
硬件控制XY電動載物臺 
- 操縱桿操作及軟件控制 
- 所選顆粒物的自動或手動再定位
電動物鏡轉換器:僅可使用軟件選擇
電動對焦 
- 操縱桿控制。 
- 軟件自動對焦可用。  
- 使用多點對焦圖進行預測性自動對焦。
光線控制:光強度由軟件進行自動控制
檢查系統系統驗證 
- 系統通過測量PSD參數進行驗證。 
- 生成OK或NOK的質量判定值
技術清潔度標準可支持的標準:ISO 11218:1993; ISO 14952; ISO 16232-10; ISO 21018; ISO4406:1999; ISO4407:1991; ISO12345:2013; NAS 1638-01; NF E48-651:1986; NF E48-655:1989; SAE AS4059E
全面符合VDA19:2016推薦要求
顆粒物識別:顆粒物可通過顆粒物類型進行分類(纖維、反光、反光纖維、或其他)
定制標準:用戶定義的標準可輕松確定
檢測配置:系統允許加載、定義、復制、重命名、刪除和保存檢驗標準
顆粒物平鋪視圖以平鋪視圖顯示檢測到的顆粒物,提升導航效果
存儲完整薄膜完整濾膜圖片可被存儲,并可使用不同條件進行重新處理
顆粒物編輯在修改過程中可對顆粒物進行編輯功能包括:  
- 刪除、合并、添加顆粒物。  
- 修改顆粒物類型。
動態報告使用Microsoft Word 2016模板可生成全面可定制的專業分析報告

選配解決方案CIX-S-HM

高度測量選定顆粒物的自動或手動高度測量- 選配軟件解決方案可對所選顆粒物從上到下進行自動對焦。顆粒物高度由此通過Z坐標最大和最小差獲得。 
- 包含一個附加物鏡(20X MPLFLN)和安裝時激活使用的許可證卡。

環境法規

歐洲低壓指令 2014/35/EU
EMC指令 2014/30/EU
RoHS指令 2011/65/EU
REACH法規,編號1907/2006
包裝及包裝廢棄物指令94/62/EC
WEEE指令 2012/19/EU
機械指令2006/42/EC
美國UL 61010-1:2010第3版
FCC 47 CFR第15部分 B子部分
加拿大CAN/CSA-C22.2 (No. 61010-1-12)
澳大利亞1992無線電通信法案,1997電信法案
節能條例 AS/NZS 4665-2005
日本電氣設備及材料安全法 (PSE)
韓國電氣設備安全控制法案
節能標簽及標準條例
EMC和無線電通信條例(公告2913-5)
中國中國RoHS
中國PL法
手冊條例

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